Sun testet RFID unter Extrembedingungen
In einem Labor im US-Bundesstaat Colorado testet Sun, wie sich RFID-Produkte unter extremen Bedingungen verhalten.
- Ralph HĂĽlsenbusch
Unter dem Namen "Sun Advanced Product Testing Lab for RFID and Sensors" hat Sun Microsystems in Longmont, Colorado (USA), eine neue Einrichtung geschaffen, um Techniken zur Radio Frequency Identification unter Extrembedingungen zu testen. Kunden können dort die Auswirkungen von Hitze und Kälte, Erschütterungen und Schwingungen, Luftfeuchtigkeit, Einsatzhöhe und Druck auf RFID- und Sensortechniken untersuchen.
Das neue Labor entstand aus einer Zusammenlegung des RFID-Testzentrums mit dem in Longmont bereits ansässigen APT Lab. Im nach ISO-9001 zertifizierten APT Lab führt Sun seit 1991, im RFID-Testzentrum seit 2004 Untersuchungen durch. (rh)
