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ASML und TSMC melden Erfolg bei der EUV-Lithografie

Christof Windeck
Wafer-Lithografiesystem ASML TwinScan NXE:3100

Wafer-Lithografiesystem ASML TwinScan NXE:3100

(Bild: ASML)

TSMC ist es im Testbetrieb mit dem ASML-Lithografiesystem Twinscan NXE:3300B EUV gelungen, innerhalb von 24 Stunden mehr als 1000 Wafer zu belichten; mit diesem Durchsatz rĂŒckt die RentabilitĂ€t der EUV-Lithografie nĂ€her.

Seit Jahren entwickelt die Halbleiterbranche mit gewaltigem Aufwand Lithografiesysteme, die feinste Strukturen mit extrem kurzwelligem UV-Licht (EUV) abbilden. Weil die Strahlungsquellen bisher schwach sind und die Masken einen großen Teil des Lichts schlucken, dauert die Belichtung aber noch deutlich lĂ€nger als bei der bisherigen Lithografie mit Argonfluorid-(ArF-)Excimer-Lasern mit 193 nm WellenlĂ€nge.

Der Einsatz von EUV-Lithografie hat sich immer wieder verzögert [1], unter anderem auch wegen der zu langen und damit unwirtschaftlichen Belichtungsdauer. Nun melden der weltgrĂ¶ĂŸte Chip-Auftragsfertiger TSMC und ASML, der fĂŒhrende Hersteller von Lithografiesystemen fĂŒr die Chipindustrie, einen Erfolg: Ein fĂŒr EUV-Lithografie umgerĂŒsteter Twinscan NXE:3300B hat es mit einer 90-Watt-Strahlungsquelle erstmals geschafft, 1022 Wafer innerhalb von 24 Stunden zu belichten.

Vor rund vier Jahren hatte ASML freilich gemeldet, dass damalige Twinscan-Systeme mehr als 4000 Wafer in derselben Zeit schafften. So gesehen ist EUV-Lithografie noch ein StĂŒck von der Praxis entfernt. Die Branche denkt aber etwa ĂŒber Konzepte nach, bei denen EUV-Licht nur die kritischsten Strukturen belichtet und andere Schritte weiter mit 193-nm-Immersionslithografie (193i) erfolgen. (ciw [2])


URL dieses Artikels:
https://www.heise.de/-2560469

Links in diesem Artikel:
[1] https://www.heise.de/news/EUV-Lithographie-steht-mal-wieder-kurz-bevor-2465642.html
[2] mailto:ciw@ct.de